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- 配件耗材及配套產(chǎn)品
產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
布魯克光譜為您的研究應(yīng)用提供各種實(shí)驗(yàn)室傅立葉紅外光譜儀。德國(guó)布魯克研究級(jí)傅立葉變換紅外光譜儀有多款種型號(hào)及配置如：INVENIO,VERTEX系列,IFS 125系列,CryoSAS,SiBrickScan等，可滿(mǎn)足各種不同應(yīng)用的需求。這里為您展示了多款德國(guó)布魯克研究級(jí)傅立葉變換紅外光譜儀產(chǎn)品圖片、產(chǎn)品簡(jiǎn)介等信息，歡迎點(diǎn)擊查看。如您欲了解更多德國(guó)布魯克紅外光譜儀信息，可聯(lián)系上海鑄金分析儀器有限公司。上海鑄金期待與您交流，共同進(jìn)步。
詳情介紹：
德國(guó)布魯克研究級(jí)傅立葉變換紅外光譜儀
布魯克光譜為您的研究應(yīng)用提供各種實(shí)驗(yàn)室傅立葉紅外光譜儀INVENIO 具有創(chuàng) 新技術(shù)及其智能精巧的設(shè)計(jì)為新一代傅立葉變換紅外光譜儀樹(shù)立了標(biāo)準(zhǔn)；VERTEX 系列光譜儀提供了**遠(yuǎn)見(jiàn)的可升級(jí)光學(xué)平臺(tái)，盡您所想的靈活設(shè)計(jì)；IFS 125 系列 傅立葉紅外光譜儀是傅立葉紅外領(lǐng)域*優(yōu)異的研究工具，它是世界上分辨率*高的上等商用紅外光譜儀；CryoSAS 是半導(dǎo)體材料質(zhì)量控制專(zhuān)用機(jī)型，主要應(yīng)用在光伏和電子工業(yè)領(lǐng)域；SiBrickScan 是唯壹一款專(zhuān)用于定量分析硅錠的氧填隙原子從而得出濃度分布的傅立葉紅外譜儀系統(tǒng)；CONFOCHECK是一款專(zhuān)注于水中蛋白質(zhì)研究的傅立葉紅外光譜儀，它非常適合于研究蛋白質(zhì)的穩(wěn)定性和蛋白質(zhì)的構(gòu)象；PMA 50 模塊具有*高的靈活性和**度，適用于連接偏振調(diào)制紅外光譜應(yīng)用，比如偏振調(diào)制掠角反射實(shí)驗(yàn)（PM-IRRAS）及手性分子振動(dòng)（VCD）；TGA-FT-IR 模塊上乘地結(jié)合了定量分析的熱重分析儀和定性分析的紅外光譜儀。
一、 德國(guó)布魯克研究級(jí)傅立葉變換紅外光譜儀入門(mén)級(jí)產(chǎn)品INVENIO
適用于常規(guī)紅外和多光譜研究級(jí)應(yīng)用的選擇INVENIO 是布魯克推出的研究級(jí)傅立葉變換紅外（FTIR）光譜儀的入門(mén)級(jí)產(chǎn)品，以實(shí)現(xiàn)要求嚴(yán)苛的分析與研發(fā)應(yīng)用。新技術(shù)及其智能精巧的設(shè)計(jì)為新一代傅立葉變換紅外光譜儀樹(shù)立了標(biāo)準(zhǔn)。。新的光路設(shè)計(jì)將帶來(lái)優(yōu)異的信噪比、較寬的光譜范圍（覆蓋從遠(yuǎn)紅外至紫外/可見(jiàn)光譜區(qū)）和*高的靈活性，適用于各種復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)配置。
?集成觸控面板
您可以選擇集成觸控面板，輕松完成研發(fā)級(jí)工作。該觸控面板不僅可左右移動(dòng)，而且還能沿兩個(gè)軸傾斜。觸控面板PC 中安裝了專(zhuān)用的 OPUS-TOUCH R&D 軟件，有助于簡(jiǎn)化工作流程和實(shí)現(xiàn)直觀操作。在優(yōu)異研究應(yīng)用工作中，還可連接臺(tái)式電腦。
?MultiTect? 檢測(cè)器技術(shù)
讓人難以置信但千真萬(wàn)確的事實(shí)是，布魯克新型的 MultiTect? 檢測(cè)器技術(shù)可同時(shí)自動(dòng)控制多達(dá) 5個(gè)室溫檢測(cè)器。MultiTect? 檢測(cè)器單元可配置諸如DTGS、InGaAs、硅二*管或 GaP 等各種室溫傅立葉變換紅外（FTIR）檢測(cè)器，從而覆蓋從遠(yuǎn)紅外至紫外/可見(jiàn)光的整個(gè)光譜區(qū)間。信號(hào)將由一個(gè) 24 位動(dòng)態(tài)區(qū)間的雙通道 ADC 直接進(jìn)行數(shù)字化。額外的 DigiTect? 檢測(cè)器插槽，可用于安裝 MCT 或其它特殊檢測(cè)器。
?Transit? 測(cè)量通道
INVENIO 可選擇性地配置一個(gè)額外的透射通道，這樣就無(wú)需移除主樣品室中的大型附件裝置，從而讓您能夠快速、方便地進(jìn)行中紅外光譜的測(cè)量。Transit? 通道中包含一個(gè)專(zhuān)用的中紅外DTGS檢測(cè)器，可以安裝用于壓片樣品的支架、用于薄膜樣品的磁性樣品架、用于各類(lèi)扁平狀樣品的夾具，以及大多數(shù)液體池附件。結(jié)合 MultiTect? 與DigiTect? 技術(shù)，INVENIO 可配置多達(dá)7個(gè)內(nèi)部檢測(cè)器，并可通過(guò)軟件來(lái)自動(dòng)選擇這些檢測(cè)器。
?光譜區(qū)間擴(kuò)展
INVENIO 可選擇性地配備光源、任意數(shù)量的分束器和檢測(cè)器，已覆蓋15 cm 至 28,000 cm，也就是從*遠(yuǎn)紅外至中、近紅外，再至可見(jiàn)光和紫外光的整個(gè)光譜區(qū)間。得益于長(zhǎng)久準(zhǔn)直的 RockSolid 干涉儀，布魯克**的 MultiTect 檢測(cè)器技術(shù)，多個(gè)內(nèi)部與外部光源位置和專(zhuān)用于多個(gè)光譜區(qū)間的光學(xué)元件，譜區(qū)擴(kuò)展變成了一項(xiàng)十分簡(jiǎn)單的任務(wù)。
?獨(dú)特的布魯克FM技術(shù)
布魯克的FM遠(yuǎn)中紅外技術(shù)由其**的*寬區(qū)間分束器和寬區(qū)間DTGS檢測(cè)器組成。通過(guò)一次性測(cè)量，無(wú)需更換任何光學(xué)元件，即可生成完整的遠(yuǎn)紅外與中紅外光譜。結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)部紅外光源與FM元件，足以覆蓋從6000 cm-1 to 80 cm-1的寬區(qū)間。
?新一代智能型研究級(jí)光譜儀
INVENIO 的設(shè)計(jì)體現(xiàn)在多個(gè)方面，例如，樣品室中用于方便更換附件的增強(qiáng)型 QuickLock 功能、用于自動(dòng)識(shí)別的電子編碼窗片和樣品支架、用于驗(yàn)證與定制專(zhuān)用濾光器的8檔濾光器輪，以及用于高靈敏度檢測(cè)器或用于衰減外部光源或激光的內(nèi)部 5 級(jí)自動(dòng)衰減器輪。新一代電子單元內(nèi)置 CPU，非常強(qiáng)大，并為日后各種升級(jí)與功能擴(kuò)展做了鋪墊。此外，INVENIO 的光學(xué)元件可隨時(shí)進(jìn)行多個(gè)光譜范圍的升級(jí)，這樣，您只需購(gòu)買(mǎi)相應(yīng)光學(xué)元件（光源、分束器和檢測(cè)器）即可完成光譜范圍的擴(kuò)展。
二、德國(guó)布魯克研究級(jí)傅立葉變換紅外光譜儀 VERTEX
VERTEX系列傅立葉紅外光譜儀集布魯克光譜事業(yè)部40年來(lái)技術(shù)創(chuàng) 新與發(fā)展之大成，將紅外光譜技術(shù)推向一個(gè)新的高峰。
VERTEX系列建立在完全可升級(jí)、設(shè)計(jì)高度靈活的光學(xué)平臺(tái)之上，具有一系列廣泛的功能，包括布魯克人工智能網(wǎng)絡(luò) (BRAIN)、自動(dòng)元件識(shí)別 (ACR)、即插即用以太網(wǎng)連接、自動(dòng)附件識(shí)別功能 (AAR) 等。
VERTEX 70v 光譜儀采用 RockSolid? 長(zhǎng)久準(zhǔn)直高性能干涉儀，能滿(mǎn)足從常規(guī)分析測(cè)量到優(yōu)異科研領(lǐng)域的各種應(yīng)用需求。采用 UltraScan? 真正準(zhǔn)直磚利干涉儀的 VERTEX 80 和 VERTEX 80v 是針對(duì)業(yè)內(nèi)*前沿的科研應(yīng)用設(shè)計(jì)的，它具備*高的光譜分辨率、能實(shí)現(xiàn)目前業(yè)內(nèi)*高水平的快速掃描和步進(jìn)掃描測(cè)量，能在*廣的光譜范圍內(nèi)提供**的性能。VERTEX 70v 及 VERTEX 80v 全真空系列光譜儀徹底杜*了大氣吸收對(duì)紅外測(cè)量的干擾，進(jìn)一步提高光譜質(zhì)量。
1、 VERTEX 70系列
VERTEX70系列傅立葉紅外光譜儀，采用全數(shù)字化系統(tǒng)，適合各種優(yōu)異研發(fā)級(jí)應(yīng)用。**創(chuàng)_新意義的設(shè)計(jì)成就了該系列譜儀優(yōu)良的靈活性和**的性能。數(shù)據(jù)采集使用delta-sigma自激型數(shù)/模轉(zhuǎn)換器，該轉(zhuǎn)換器具備真正的24位ADC動(dòng)態(tài)范圍。布魯克**磚利技術(shù)DigiTect將此數(shù)模轉(zhuǎn)換器與檢測(cè)器自帶的電子前置信號(hào)放大器整合到一起。*大限度地避免了外界模擬信號(hào)對(duì)光譜的干擾，**了出色的信噪比。
全真空光學(xué)臺(tái)設(shè)計(jì)
其全真空的光學(xué)設(shè)計(jì)，使VERTEX 70在中紅外、近紅外及遠(yuǎn)紅外譜區(qū)具備*高的靈敏度，使用戶(hù)無(wú)需再擔(dān)心水蒸氣或二氧化碳的吸收會(huì)干擾或覆蓋譜圖中*弱的特征信號(hào)。該真空譜儀已被廣泛應(yīng)用于納米科學(xué)領(lǐng)域，并成功獲取了亞單分子層薄膜的信息。
VERTEX FM中遠(yuǎn)紅外寬譜測(cè)試功能
全新的VERTEX FM功能使VERTEX 70(v)成為世界上**臺(tái)可以一次測(cè)試覆蓋整個(gè)中、遠(yuǎn)紅外光譜范圍（即6000-80cm-1 ，真空系列可達(dá)50cm-1）的紅外光譜儀。
*寬的譜區(qū)擴(kuò)展
VERTEX 70系列結(jié)合不同的光學(xué)器件，使譜區(qū)可以覆蓋從太赫茲15 cm-1起(VERTEX 70v 從10 cm-1起)、中紅外、近紅外、可見(jiàn)光直至紫外光區(qū)28,000 cm-1這一*寬的范圍。預(yù)準(zhǔn)直的光學(xué)器件和長(zhǎng)久準(zhǔn)直的RockSolidTM干涉儀，讓擴(kuò)展譜區(qū)和儀器維護(hù)變得更加簡(jiǎn)單快捷。
BRAIN：布魯克人工智能系統(tǒng) (Bruker Artificial Intelligence Network)
布魯克人工智能系統(tǒng)（BRAIN）包含自動(dòng)識(shí)別測(cè)量附件（AAR）、自動(dòng)識(shí)別光學(xué)配件（ACR）、自動(dòng)調(diào)用及檢查測(cè)量參數(shù)，大大降低了傅立葉紅外光譜測(cè)量的難度，節(jié)省了實(shí)驗(yàn)時(shí)間，對(duì)各種，甚至包括優(yōu)異科研在內(nèi)的應(yīng)用領(lǐng)域，都是同樣的便捷可靠。另外，實(shí)時(shí)在線(xiàn)監(jiān)控系統(tǒng)徹底簡(jiǎn)化了對(duì)儀器工作狀態(tài)和性能指標(biāo)的監(jiān)測(cè)工作。一體化的OPUSTM軟件包將全 面支持上述功能。
即插即用：使用簡(jiǎn)便
無(wú)論何時(shí)何地，只要插上電源，連接以太網(wǎng)，VERTEX 70系列譜儀即可開(kāi)始正常工作。該系列譜儀采用了以太網(wǎng)式連接，客戶(hù)可以通過(guò)局域網(wǎng)或互聯(lián)網(wǎng)對(duì)譜儀進(jìn)行遠(yuǎn)程操控。
布魯克公司的VERTEX 70和VERTEX 70v優(yōu)異研究級(jí)傅立葉變換紅外光譜儀以其**的性能和無(wú)以倫比的靈活性，成為當(dāng)前常規(guī)分析應(yīng)用以及**科學(xué)研究的優(yōu)選。
2、 VERTEX 80系列
全新的 VERTEX 80 和真空型 VERTEX 80v 傅立葉變換紅外光譜儀采用動(dòng)態(tài)校準(zhǔn) UltraScan? 干涉儀，提供*大光譜分辨率。精 確的、真正無(wú)摩擦的空氣軸承掃描儀**了*佳的靈敏度和穩(wěn)定性。
?新的UltraScanTM磚利干涉儀
VERTEX 80 及 VERTEX 80v 均采用*新的真正準(zhǔn)直的UltraScanTM磚利干涉儀，該干涉儀可實(shí)現(xiàn)*高的光譜分辨率。高精度的線(xiàn)性氣動(dòng)軸承及****的光學(xué)反射鏡**了儀器達(dá)到*出色的靈敏度和穩(wěn)定性。VERTEX適用于各種*限條件下的研究工作，如：高分辨率測(cè)試、*快速掃描、步進(jìn)掃描及UV擴(kuò)展譜區(qū)的測(cè)量。布魯克公司獨(dú)特的數(shù)字化DigiTectTM數(shù)據(jù)采集磚利技術(shù)有效防止外部信號(hào)干擾，**了優(yōu)良的信噪比。
?臺(tái)式真空光譜儀
VERTEX 80v 的全鑄鋁光學(xué)底座及全真空型光學(xué)臺(tái)設(shè)計(jì)使譜儀具備了更高的穩(wěn)定性。大氣中的水汽吸收在真空環(huán)境下被消除，靈敏度及穩(wěn)定性得到進(jìn)一步提高。在遠(yuǎn)紅外和太赫茲波段該特色尤為突出，并意義重大。結(jié)合*新的全自動(dòng)分束器更換器（BMS-c），用戶(hù)無(wú)需打斷真空、通過(guò)軟件控制便能實(shí)現(xiàn)譜區(qū)的切換和擴(kuò)展。
三、 德國(guó)布魯克研究級(jí)傅立葉變換紅外光譜儀IFS 125系列
IFS125高靈敏度傅里葉紅外光譜儀系列是傅立葉紅外領(lǐng)域優(yōu)異的研究工具，它是世界上分辨率*高的頂 級(jí)商用紅外光譜儀。IFS 125系列光譜儀， 優(yōu)化了光譜儀的每一個(gè)部件， 以實(shí)現(xiàn)接近理論*限的至高靈敏度。 它提供業(yè)內(nèi)： 高的光譜分辨率——優(yōu)于0.001cm-1， 高的譜儀分辨能力——優(yōu)于106， 寬的 波 譜 范 圍 ——從 遠(yuǎn) 紅 外 /太 赫 茲 的 5cm - 1到 紫 外 區(qū) 域 的50,000cm-1。 車(chē)載式設(shè)計(jì)的IFS125/M紅外光譜儀專(zhuān)門(mén)用于氣體吸收的分析研究， 尤其是大氣環(huán)境的氣體研究及應(yīng)用。
作為資 深的紅外光譜儀制造廠商，布魯克公司一直保持著世界上高的光譜分辨率和高的精度。IFS125HR傅里葉紅外光譜儀光程差可以達(dá)到11.7米，是市場(chǎng)上一款能提供*高分辨率的紅外光譜儀。 這種*高分辨率在大氣研究中用于同溫層痕量氣體、大氣中優(yōu)良譜線(xiàn)強(qiáng)度、通過(guò)大氣的輻射轉(zhuǎn)移；在物理研究中為 數(shù)據(jù)庫(kù)中的參考光譜提供高分辨振轉(zhuǎn)光譜、研究低溫下分子晶體、研究分子動(dòng)力學(xué)、空心陰*分子發(fā)射、*低溫下半導(dǎo)體的痕量雜質(zhì)和磁電效應(yīng)等基礎(chǔ)研究。
四、 德國(guó)BRUKER 布魯克CryoSAS*低溫硅的質(zhì)量控制系統(tǒng)
CryoSAS*低溫硅測(cè)試分析系統(tǒng)是半導(dǎo)體材料質(zhì)量控制專(zhuān)用機(jī)型，主要應(yīng)用在光伏和電子工業(yè)領(lǐng)域*低溫硅分析控制。針對(duì)光電和半導(dǎo)體工業(yè)領(lǐng)域*高靈敏度和較低溫度的嚴(yán)苛要求， 布魯克公司特別設(shè)計(jì)的*低溫PL光致發(fā)光測(cè)試系統(tǒng)和CryoSAS*低溫硅測(cè)試分析系統(tǒng)無(wú)疑是行業(yè)內(nèi)無(wú)以倫比的**產(chǎn)品。 PL用于III-V族中痕量雜質(zhì)的測(cè)定， 硼和磷的*低檢測(cè)*限可以達(dá)到1ppta。 而CryoSAS也已經(jīng)成為全球硅生產(chǎn)行業(yè)專(zhuān)用測(cè)試儀器的金 標(biāo)準(zhǔn)。
CryoSAS*低溫硅測(cè)試分析系統(tǒng)傅里葉拉曼光譜儀是一款全自動(dòng)*低溫硅分析系統(tǒng)， 用于太陽(yáng)能電池級(jí)硅和電子級(jí)硅中的雜質(zhì)定量分析。根據(jù)ASTM/SEMI等**標(biāo)準(zhǔn)， CryoSAS可以定量測(cè)試硅中碳、氧以及其他痕量雜質(zhì)（如硼、 磷和砷等）。與**的化學(xué)方法相比， 這種方法靈敏度更高， 測(cè)量更快捷， 而且不破壞樣品， 儀器操作簡(jiǎn)單，不需要液氦， 符合現(xiàn)代**質(zhì)量控制的要求。
?半導(dǎo)體專(zhuān)用分析光譜儀CryoSAS
CryoSAS是布魯克光譜公司生產(chǎn)的專(zhuān)門(mén)用于硅材料分析的一體化的低溫檢測(cè)系統(tǒng)。
CryoSAS上乘地將高性能的布魯克FT-IR光譜技術(shù)與現(xiàn)代化與方便實(shí)用的低溫閉循環(huán)致冷系統(tǒng)結(jié)合在一起，擺脫了通常進(jìn)行高靈敏度檢測(cè)時(shí)對(duì)液氦的依賴(lài)。CryoSAS的全部組件都采用了**的一體化和人性化的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)理念，使得這樣的系統(tǒng)能夠適應(yīng)硅材料生產(chǎn)中的不同使用環(huán)境。
五、 德國(guó)布魯克研究級(jí)傅立葉變換紅外光譜儀SiBrickScan
SiBrickScan (SBS)，**款at-line FTIR儀器，它可以定量分析硅錠的氧填隙原子。該系統(tǒng)使得硅晶片生產(chǎn)商*前邁進(jìn)了一大步。不像之前的方法，SBS無(wú)需樣品前處理，可直接進(jìn)行檢測(cè)。
